Istituto:
IMAA
Sede:
Tito Scalo
Responsabili:
Francesco Cavalcante, Vito Summa
Strumentazione: FEG-SEM, EDS, XRD, OM
Tipologia di analisi disponibile: Microdiffrattometro a raggi X Rigaku D/MAX RAPID
Analisi mineralogiche, strutturali e tessiturali. Le analisi possono essere effettuate su qualsiasi campione contenente fasi cristalline. Le matrici per le analisi mineralogiche e strutturali possono essere: campione tal quale, sezione sottile, film sottile, polvere, cristallo isolato. Le analisi tessiturali possono essere effettuate su sezioni sottili, film sottili, e su particolari campioni con superfici sufficientemente piatte e lisce.
Diffrattometro a raggi X Rigaku -RINT 2200
Lo strumento ha una geometria bragg-brentano, sorgente CuKα, scambiatore automatico con la possibilità di inserire 43 campioni, monocromatore di grafite sul fascio secondario, fenditure fisse o variabili con diversa apertura modificabile via software.
Microscopio Elettronico a Scansione con Sorgente ad Emissione di Campo (FEG-SEM) mod. Zeiss Supra 40 e Sistema di microanalisi in Dispersione di Energia (EDS) Oxford Inca Energy 350 con detector X-act SDD. Questo strumento dispone di: un rivelatore Everhart-Thornley per elettroni secondari SE2 al di sotto della lente-obiettivo; un detector anulare coassiale In-Lens per elettroni a bassa energia SE1; un rivelatore di elettroni retrodiffusi (backscattered) a quattro settori allo stato solido; un rivelatore a dispersione di energia dei raggi X e un rivelatore STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) per la rilevazione degli elettroni trasmessi in bright field (BF) e dark field (DF).
Microscopio Ottico ZEISS, Mod. AXIOPHOT. Lo strumento consente di effettuare analisi petrografiche in luce trasmessa, polarizzata su sezioni sottili di roccia. Tempo macchina disponibile è di circa 20%.
Spettrometro micro-XRF (microfluorescenza a raggi X con spot >20 micron) - Bruker M4 TORNADO. Le misure forniscono informazioni sulla composizione e sulla distribuzione degli elementi, anche al di sotto della superficie. Lo strumento è ottimizzato per la mappatura degli elementi ad alta velocità di punti, linee e scansioni di aree 2D.
Tipo di collaborazione: Collaborazione scientifica con costi ridotti e in regime conto terzi
Disponibilità ad ospitare personale (Ph.D, Post-Doc, ricercatori) nel laboratorio
